PN结物理特性及玻尔兹曼常数的测量
半导体PN结的物理特性是物理学和电子学的重要基础内容之一,PN结也是很多半导体器件的核心,PN结的性质集中反映了半导体导电性能的特点。PN结所具有的半导体特有的物理现象,一直受到人们的广泛重视。用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流,可以测量出PN结扩散电流与电压关系,证明此关系遵循指数分布规律,并较精确地测出玻尔兹曼常数。PN结构成的二极管和三极管的伏安特性与温度密切相关,利用这一特性可制成PN结温度传感器,包括二极管温度传感器和三极管温度传感器,以及集成电路温度传感器,这类传感器具有灵敏度高、响应快、体积小等特点,在自动温度检测等方面有广泛的应用。本实验中可以通过测量PN结正向电压UF与热力学温度T的关系,求得该传感器的灵敏度,并近似求得0K时硅材料的禁带宽度。
【实验目的】
1. 在室温时,测量PN结电流与电压关系,证明此关系符合指数分布规律。
2. 改变加热井温度,测量玻尔兹曼常数。
3. 学习用运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流。
4. 测量PN结电压与温度关系,求出该PN结温度传感器的灵敏度。
5. 计算半导体硅材料在0K时的近似禁带宽度。
【实验原理】
1. PN结的伏安特性及玻尔兹曼常数测量
由半导体物理学可知,PN结的正向电流IF与正向电压UF之间满足关系:
IF=I0expeUF/kT-1 (1)
式(1)中T是热力学温度;e是电子电量;k是玻尔兹曼常数;I0是PN结的反向饱和电流,它与PN结材料的禁带宽度以及环境温度等因素有关。可以证明:
I0=CTγexp-eUg0kT (2)
式中C是与PN结面积、掺质浓度等有关的常数,γ是另一常数,Ug0是绝对零度时PN结导带底和价带顶的电势差。当温度T一定时,I0为常数。
在常温(约300K)下,kT/e≈0.026V,而PN结的正向压降UF一般有零点几伏,(1)式中的expeUF/kT≫1。忽略(1)式括号中的“-1”项有:
IF=I0expeUF/kT (3)
若测得PN结的IF~UF关系,则利用(3)式可以求出e/kT。若再能测得温度T,并将电子电量e代入,即可求得玻尔兹曼常数k。
在实际测量中,二极管的正向IF~UF关系虽然能较好满足指数关系,但求得的常数
往往偏小。这是因为通过二极管电流不只有扩散电流,还有其它电流。一般它包括三个部分:[1]扩散电流,它严格遵循(3)式;[2]耗尽层复合电流,它正比于expeUF/2kT;[3]表面电流,它是由Si和SiO2界面中杂质引起的,其值正比于expeUF/mkT,一般m>2。因此,为了验证(3)式以及求出准确的e/k常数,不宜采用硅二极管,而采用硅三极管接成共基极线路,因为此时集电极与基极短接,集电极电流中仅仅是扩散电流。复合电流主要在基极出现,测量集电极电流时,将不包括它。如图1,本次实验选取性能良好的硅三极管(TIP31型)接成共基极线路,实验时又处于较低的正向偏置,这样表面电流影响也完全可以忽略,所以其集电极电流与结电压将满足(3)式。

图1 PN结扩散电流与结电压关系测量线路图
2. 弱电流的测量
过去实验中10-6~10-11A量级弱电流一般采用光点反射式检流计测量,该仪器灵敏度较高约10-9A/分度,但有许多不足之处。如十分怕震,挂丝易断;使用时稍有不慎,光标易偏出满度,瞬间过载引起挂丝疲劳变形产生不回零点及指示误差变大。使用和维修极不方便。近年来,集成电路与数字化显示技术越来越普及。高输入阻抗运算放大器性能优良,价格低廉,用它组成电流-电压变换器测量弱电流信号,具有输入阻抗低,电流灵敏度高。温漂小、线性好、设计制作简单、结构牢靠等优点,因而被广泛应用于物理测量中。
LF356是一个高输入阻抗集成运算放大器,用它组成电流-电压变换器(弱电流放大器),原理如图2所示,其中虚线框内电阻Zr为电流-电压变换器的等效输入阻抗。由图2可得,运算放大器的输出电压Uo为:
Uo=-A0Ui (4)
式(4)中Ui为输入电压,A0为运算放大器的开环电压放大倍数,即图2中电阻Rf→∞时的电压增益,Rf称反馈电阻。因为理想运算放大器的输入阻抗ri→∞,所以信号源输入的电流只流经反馈网络构成的通路。因而有:
Is=Ui-UoRf=Ui1+A0Rf (5)

图2 电流-电压变换器
由(5)式可得电流-电压变换器的等效输入阻抗
Zr=UiIs=Rf1+A0≈RfA0 (6)
由(4)式和(5)式可得电流-电压变换器的输入电流Is与输出电压Uo之间满足关系:
Is=-UoA0∙1+A0Rf≈-UoRf (7)
由(7)式知只要测得输出电压Uo,利用已知Rf值即可求得Is值。
以高输入阻抗集成运算放大器LF356为例来讨论Zr和Is值的大小。对LF356运放的开环增益A0=2×105,输入阻抗ri≈1012Ω。若取Rf为1.00MΩ,则由(6)式有 Zr=5Ω。若选用四位半量程200mV数字电压表测量Uo,它的最后一位变化为0.01mV,那么用上述电流-电压变换器能测量的最小电流值为:
(Is)min=0.01×10-3V/(1×106Ω)=1×10-11A
由此说明,用集成运算放大器组成电流-电压变换器测量弱电流,具有输入阻抗小、灵敏度高的优点。
3. PN结温度传感器的测温原理
将(2)式代入(3)式可求得常温下PN结的正向电压:
UFT=Ug0-kTelnCIF-kTelnTγ (8)
PN结在小恒定电流IF的驱动时,略去(8)式中的非线性项Unl=-kTelnTγ,有:
UFt=Ug0-273.2+tkelnCIF (9)
式中,t为摄氏温度。若选取温度tR℃为参考点,则
∆U=UFt-UFtR=-kelnCIFt-tR (10)
若定义S=-kelnCIF为PN结温度传感器灵敏度,则有
t=tR+∆US (11)
这就是PN结温度传感器在摄氏温标下的测温原理公式。
上述结论仅适用于杂质全部电离、本征激发可以忽略的温度区间(对于通常的硅二极管来说,温度范围约:-50℃~150℃)。如果温度低于或高于上述范围时,由于杂质电离因子减小或本征载流子迅速增加,UF~T关系将产生新的非线性,这一现象说明UF~T的特性还随PN结的材料而异,对于宽带材料(如GaAs,Eg为1.43eV)的PN结,其高温端的线性区宽;而材料杂质电离能力小(如InSb)的PN结,则低温端的线性范围宽。对于给定的PN结,即使在杂质导电和非本征激发温度范围内,其线性度也随温度的高低而有所不同,这是非线性项Unl引起的,由Unl对T的二阶导数d2UnldT2∝1T可知,dUnldT的变化与T成反比,所以UF~T的线性度在高温端优于低温端,这是PN结温度传感器的普遍规律。
【实验仪器】
HLD-PN-III型PN结物理特性综合测定仪、TIP31传感器、PN结传感器、连接线等
【仪器介绍】

图3 仪器面板
HLD-PN-III型 PN结物理特性综合测定仪的面板如图3,图中:
1. 直流电压表:四位半数字电压表,量程可在2V和20V间切换
2. 直流稳压电源:三位半数字显示,输出可在0-1.2V和0-12V间切换
3. PID控温指示及控温设置
调节PID控温表,设置SV的方法:在面板上按一下“SET”按键,SV表头的温度显示个位闪烁;按面板上的“▲”或“▼”键调整设置个位的温度;再按“<”键使表头的温度显示十位闪烁,按面板上的“▲”或“▼”键调整设置十位的温度;用同样方法还可设置百位的温度。调好SV所需设定的温度后,再按一下“SET”按键即可完成设置。
4. 电源开关
5. 加热开关及加热速度选择
6. 恒流源输出:有100mA、200mA 等8档选择
7. 热电传感器实验单元:用于扩展热敏电阻及金属电阻特性实验
8. PN结实验单元模板:端口I输入正向电流IF,端口Uo取出PN结正向电压UF
9. 玻尔兹曼常数实验单元模板:端口U1为TIP31传感器加上正向电压UF,端口U2取出由IF变换而成的电压(IF=U2R1)
10. 降温开关:用于加热井降温
11. 待测传感器:TIP31传感器(带散热板的功率三极管)一个、PN结传感器一个(最佳工作电流为100μA)
12. 实验加热井:用于传感器加热,可同时放入3-4个传感器
【预习思考题】
1. 查阅相关资料,简述PN结的构成和物理特性,以及三极管内部载流子的运动特点。
2. 在用基本函数进行曲线拟合求经验公式时,如何检验哪一种函数是最佳拟合?
【注意事项】
1. 数据处理时,对于扩散电流太小(起始状态)及扩散电流接近或达到饱和时的数据,在处理数据时应删去,因为这些数据可能偏离公式(3)。
2. 用本仪器做实验,TIP31型三极管温度可采用的范围为0~50℃。
3. 由于各公司的运算放大器(LF356)性能有些差异,在换用LF356时,有可能达到饱和电压U2值不相同。
【实验内容与步骤】
(一)测量PN结的IF~UF关系,进行曲线拟合求经验公式,计算玻尔兹曼常数k值
1. 熟悉实验的原理和仪器的构成。
2. 先将稳压电源的电压调节旋钮逆时针旋转到底,再将量程切换至1.2V档。
3. 将待测传感器TIP31放入加热井,另一端航空插座与玻尔兹曼常数实验单元相连。
4. 将玻尔兹曼常数实验单元的U1端与稳压电源的输出端相连(红对红、黑对黑),U2端接入直流电压表(量程选取20V档)。
5. 连接好实验连接线,打开电源预热10分钟。
6. 在室温情况下,测量三极管发射极与基极之间电压U1和相应的电压U2。
在常温下改变U1的值约从0.300V至0.450V范围每隔0.010V测量一个数据点,直至U2值达到饱和(U2值变化较小或基本不变)。(U1的起、终点以具体的实验情况来判断)
7. 改变加热井的温度,重复测量U1和U2的关系数据,并与室温测得的结果进行比较。
调节PID控温表,设置SV;10秒后,将加热选择开关设为慢档,并打开加热开关;仪器开始加热,待温度达到设置温度后,重复上述的第6步。
由于温控仪温度稳定的达到设定的温度需要较长的时间,一般需要15~20分钟左右,请同学们耐心等待。
(二)测量PN结的 UF~T关系,求PN结温度传感器的灵敏度S,计算硅材料0K时的近似禁带宽度Eg0
1. 将稳压电源的电压调节旋钮逆时针旋转到底。
2. 将待测传感器3DG6型三极管放入加热井,另一端航空插座与PN结实验单元相连。
3. 恒流源的电流选择设为100mA,电流输出接至PN结实验单元的I输入端(红对红、黑对黑);PN结实验单元的Uo 输出,接到直流电压表(量程选取2V档)。
4. 连接好实验连接线,打开电源预热10分钟。
5. 测量PN结传感器的UF~T关系。在40℃至85℃范围内改变温度,每隔5℃测量一次UF值(约10个数据点),实验温度起点以具体的实验情况判断。
由于温控仪温度稳定的达到设定的温度需要较长的时间,为节省时间可用连续方法测量,不需定点控温。
6. 将恒流源的电流改为200μA,重新测量PN结传感器的UF~T关系数据,并与100mA条件下测得的结果进行比较。
【实验数据记录及处理】
(一)对室温时PN结的IF~UF关系进行曲线拟合求经验公式,计算玻尔兹曼常数
1. 运用最小二乘法,以U1为自变量、U2为因变量对室温时的实验数据分别进行(1)线性函数U2=aU1+b、(2)乘幂函数U2=aU1b、(3)指数函数U2=aexpbU1拟合,求出相关系数r和拟合函数中的a和b值。
2. 求出衡量各函数拟合好坏的标准差d。
究竟哪一种函数关系更符合物理规律必须用标准差来检验,方法是:将实验测得的各个自变量U1i分别代入三个拟合函数关系,得到相应因变量的预期值U2i*,并由此求出各函数拟合的标准差:
(12)
式中n为测量数据个数,U2i为实验测得的因变量。最后比较哪一种基本函数为标准差最小,说明该函数拟合得最好。
表1 PN结 IF~UF关系的测定及曲线的拟合 (室温t0 = ℃)
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线性回归U2=aU1+b |
乘幂回归U2=aU1b |
指数回归U2=aebU1 |
i |
U1i/V |
U2i/V |
U2i*/V |
(U2i-U2i*)2/V2 |
U2i*/V |
(U2i-U2i*)2/V2 |
U2i*/V |
(U2i-U2i*)2/V2 |
1 |
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2 |
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... |
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16 |
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δ |
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r |
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a、b |
a= ,b= |
a= ,b= |
a= ,b= |
由表1处理后的数据进行判断,线性函数、乘幂函数和指数函数的拟合中哪一种数据拟合最好,并由此说明PN结扩散电流-电压关系遵循的分布规律。
3. 取最好的函数拟合结果计算玻尔兹曼常数,并将其与公认值
J/K比较计算百分偏差。
(二)根据PN结的 UF~T关系求PN结温度传感器的灵敏度S,计算硅材料0K时的近似禁带宽度Eg0
1. 求被测 PN结正向压降随温度变化的灵敏度S(mV/℃)。利用作图法,作UF~T曲线,其斜率就是S。
2. 估算被测PN结材料硅的禁带宽度Eg0=eUg0电子伏特。根据(9)式可得
Ug0=UFt0+273.2+t0S (13)
将实验所得的 Eg0与公认值 Eg00=1.21eV比较,求其百分偏差。
3. 比较IF=100mA和IF=200mA两种条件下的实验结果,进行必要的分析讨论。
表2 PN结的 UF~T关系
|
测温点 |
室温t0 |
1 |
2 |
3 |
… |
10 |
工作电流IF/mA |
温度t/℃ |
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100 |
UF/V |
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200 |
UF/V |
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【思考题】
1. 玻尔兹曼常数还可以用什么方法测量?简述测量原理。
2. 测量微小电流有哪些方法?用运算放大器组成电流-电压变换器测量微小电流有哪些优点?运算放大器LF356在物理实验中还有哪些具体应用?
3. PN结温度传感器会因为工作电流而产生热效应,如何在实际应用中减小其影响?
【参考文献】
[1]黄昆,韩汝琦.半导体物理基础[M].北京:科学出版社,2015:81-123
[2]华成英.模拟电子技术基本教程[M].北京:清华大学出版社,2006:64-105
[3]王云才.大学物理实验教程[M].北京:科学出版社,2008:176-180
[4]王维,李志杰.大学物理实验[M].北京:科学出版社,2008:228-232